测量系统及测量方法

摘要

本发明提供一种测量系统及测量方法，用于测量物体的信号传输性能，即测量物体的传输系数和反射系数，根据测量获得的传输系数可以使用现有的反演方法计算获得物体的介电常数。该测量系统包括：发射天线，用于发射电磁波；主路聚焦透镜，用于将获得的电磁波汇聚至中继装置；中继装置，包括物体并用于将透过物体的电磁波传输至透射路聚焦透镜，和/或将被物体反射的电磁波传输至反射路聚焦透镜；透射路聚焦透镜，用于将获得的电磁波汇聚至透射路接收天线；反射路聚焦透镜，用于将获得的电磁波汇聚至反射路接收天线。该测量方法使用上述测量系统。解决了对现有测量系统进行校准时操作难度大的问题。

主权项

一种测量系统，用于测量物体的信号传输性能，其特征在于，包括：发射天线，用于发射电磁波；主路聚焦透镜，用于将获得的所述电磁波汇聚至中继装置；所述中继装置，包括所述物体，并用于将透过所述物体的所述电磁波传输至透射路聚焦透镜，和/或将被所述物体反射的所述电磁波传输至反射路聚焦透镜；所述透射路聚焦透镜，用于将获得的所述电磁波汇聚至透射路接收天线；所述反射路聚焦透镜，用于将获得的所述电磁波汇聚至反射路接收天线。