发明名称 |
半导体集成器件的接触装置 |
摘要 |
一种集成器件具有:一第一导电区(6A);一第二导电区(11A);一绝缘层(9),配置在第一与第二导电区之间;至少一个通孔(35),延伸在第一与第二导电区之间的所述绝缘层(9)之中;以及一接触装置(10A),制成在通孔之中并在电气上连接第一导电区(6A)和第二导电区(11B)。接触装置(10A)由一导电材料层(30)构成,后者敷盖通孔(36)的侧向表面和底部表面并围绕一空置区(35),此空置区在顶部处由第二导电区(11A)封住。导电材料层(30)最好是包括一钛层(31)和一氮化钛层(32),配置得彼此顶部相叠。 |
申请公布号 |
CN1586005A |
申请公布日期 |
2005.02.23 |
申请号 |
CN01823325.2 |
申请日期 |
2001.04.19 |
申请人 |
ST微电子公司 |
发明人 |
拉费尔·赞布拉诺;西泽尔·阿托尼;恰拉·科瓦斯 |
分类号 |
H01L21/8246;H01L27/115;H01L21/768 |
主分类号 |
H01L21/8246 |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
王景刚;李瑞海 |
主权项 |
1.一种集成器件,包括:至少一个第一导电区(6A,6B;40);至少一个第二导电区(11A,11B;41);一绝缘层(9;43),延伸在所述第一与第二导电区之间;至少一个通孔(36),在所述绝缘层(9;43)中延伸在所述第一与第二导电区之间;以及一接触装置(10A,10B;40),制成在所述通孔之中,所述接触装置(10A,10B;40)包括一导电材料层(30),在电气上连接所述第一和第二导电区,其特征在于,所述接触装置(10A,10B;40)包括一空置区(35)。 |
地址 |
意大利布里安扎 |