发明名称 半导体集成器件的接触装置
摘要 一种集成器件具有:一第一导电区(6A);一第二导电区(11A);一绝缘层(9),配置在第一与第二导电区之间;至少一个通孔(35),延伸在第一与第二导电区之间的所述绝缘层(9)之中;以及一接触装置(10A),制成在通孔之中并在电气上连接第一导电区(6A)和第二导电区(11B)。接触装置(10A)由一导电材料层(30)构成,后者敷盖通孔(36)的侧向表面和底部表面并围绕一空置区(35),此空置区在顶部处由第二导电区(11A)封住。导电材料层(30)最好是包括一钛层(31)和一氮化钛层(32),配置得彼此顶部相叠。
申请公布号 CN1586005A 申请公布日期 2005.02.23
申请号 CN01823325.2 申请日期 2001.04.19
申请人 ST微电子公司 发明人 拉费尔·赞布拉诺;西泽尔·阿托尼;恰拉·科瓦斯
分类号 H01L21/8246;H01L27/115;H01L21/768 主分类号 H01L21/8246
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 王景刚;李瑞海
主权项 1.一种集成器件,包括:至少一个第一导电区(6A,6B;40);至少一个第二导电区(11A,11B;41);一绝缘层(9;43),延伸在所述第一与第二导电区之间;至少一个通孔(36),在所述绝缘层(9;43)中延伸在所述第一与第二导电区之间;以及一接触装置(10A,10B;40),制成在所述通孔之中,所述接触装置(10A,10B;40)包括一导电材料层(30),在电气上连接所述第一和第二导电区,其特征在于,所述接触装置(10A,10B;40)包括一空置区(35)。
地址 意大利布里安扎