| 发明名称 | 表面增强的光谱法、挠性结构化基底及其制备方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及挠性聚合物基底(100)，其用于表面增强拉曼光谱(SERS)和表面等离子体激元谐振(SPR)的测定。所述基底包括聚合物膜(125)，其中纳米结构化部件(152)被压花在一个表面上，并被镀金属层(130)覆盖，所述镀金属层(130)由金、银等制得；从而提供SERS活性表面。本发明还涉及一种制造装置的方法，以及包括DNA感测的应用。 | ||
| 申请公布号 | CN101223435A | 申请公布日期 | 2008.07.16 |
| 申请号 | CN200680025731.5 | 申请日期 | 2006.07.14 |
| 申请人 | 3M创新有限公司 | 发明人 | 约翰·C·胡尔滕;利萨·A·迪克;张海燕;威廉·L·斯特宾斯 |
| 分类号 | G01N21/65(2006.01);G01N21/55(2006.01) | 主分类号 | G01N21/65(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 樊卫民;郭国清 |
| 主权项 | 1.一种分析物质的方法，包括：(a)提供挠性结构化基底，其包括：(i)单块聚合膜，其包括：具有第一和第二相反主表面的底部，其中至少一部分所述第一主表面至少部分地由纳米结构限定；和(ii)顺应地设置于至少一部分所述纳米结构上的金属层；(b)提供紧密靠近至少一部分所述金属层的被分析物；和(c)观测所述被分析物的表面增强光学性能。 | ||
| 地址 | 美国明尼苏达州 | ||