发明名称 一种降低变容器最小电容的方法
摘要 本发明提供了一种降低变容器最小电容的方法,包括:进行浅沟槽隔离制作,形成有源区;利用第一光刻胶图案,对核心NMOS区域和输入输出NMOS区域进行阱注入形成P型阱;利用第二光刻胶图案,对核心NMOS区域和变容器区域执行离子注入;利用第三光刻胶图案,在变容器区域通过注入形成N型阱;制作栅极氧化层并淀积栅极多晶硅,而且进行栅极多晶硅的光刻和刻蚀以形成栅极;将刻蚀后的栅极多晶硅和栅极氧化层进行修复氧化;制作栅极侧墙;进行源漏注入以形成源漏极。
申请公布号 CN106206259A 申请公布日期 2016.12.07
申请号 CN201610766363.5 申请日期 2016.08.30
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 卢海峰;张冬明;刘巍
分类号 H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 智云
主权项 一种降低变容器最小电容的方法,其特征在于包括:第一步骤:进行浅沟槽隔离制作,形成有源区;第二步骤:利用第一光刻胶图案,对核心NMOS区域和输入输出NMOS区域进行阱注入形成P型阱;第三步骤:利用第二光刻胶图案,对核心NMOS区域和变容器区域执行离子注入;第四步骤:利用第三光刻胶图案,在变容器区域通过注入形成N型阱。
地址 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号