发明名称 | 指状测试器及其测试探针 | ||
摘要 | 本发明涉及指状测试器的测试探针,用于测试非构成件型电路板。测试探针具有带探针尖端的测试针,探针尖端可接触到电路板测试点,并可通过至少两弹性定位臂而枢转接合于一座架。本发明的特点在于至少一固定臂由导电材料制成,并电连接测试针。本发明的指状测试器具有测试探针,该测试探针由特殊线型马达驱动。 | ||
申请公布号 | CN1585901A | 申请公布日期 | 2005.02.23 |
申请号 | CN02822468.X | 申请日期 | 2002.11.14 |
申请人 | 德商·Atg测试系统股份有限公司 | 发明人 | 维克多·罗曼诺夫 |
分类号 | G01R1/067 | 主分类号 | G01R1/067 |
代理机构 | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 孙晧晨 |
主权项 | 1.一种指状测试器的测试探针,用于测试电路板,其不具独立驱动器,且该测试探针具有带探针尖端的测试针,该探针尖端可接触到电路板测试点,测试针可通过至少两弹性定位臂而枢转接合于座架,其中至少一定位臂由导电材料制成,并电连接该测试针。 | ||
地址 | 德国威尔斯依姆市 |