发明名称 指状测试器及其测试探针
摘要 本发明涉及指状测试器的测试探针,用于测试非构成件型电路板。测试探针具有带探针尖端的测试针,探针尖端可接触到电路板测试点,并可通过至少两弹性定位臂而枢转接合于一座架。本发明的特点在于至少一固定臂由导电材料制成,并电连接测试针。本发明的指状测试器具有测试探针,该测试探针由特殊线型马达驱动。
申请公布号 CN1585901A 申请公布日期 2005.02.23
申请号 CN02822468.X 申请日期 2002.11.14
申请人 德商·Atg测试系统股份有限公司 发明人 维克多·罗曼诺夫
分类号 G01R1/067 主分类号 G01R1/067
代理机构 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 代理人 孙晧晨
主权项 1.一种指状测试器的测试探针,用于测试电路板,其不具独立驱动器,且该测试探针具有带探针尖端的测试针,该探针尖端可接触到电路板测试点,测试针可通过至少两弹性定位臂而枢转接合于座架,其中至少一定位臂由导电材料制成,并电连接该测试针。
地址 德国威尔斯依姆市