发明名称 Ein Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
摘要 Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements, aufweisend: – Ein Bereitstellen eines einkristallinen Halbleiterkörpers (10) mit einer ersten Oberfläche (12), einer der ersten Oberfläche (12) gegenüberliegenden zweiten Oberfläche (13), einem Halbleiterbauelement-Abschnitt (14) des Halbleiterkörpers (10) und einem dazu benachbarten Trenngebiet (15) des Halbleiterkörpers, – Erzeugen eines polykristallinen Halbleiterkörpergebiets (11) zwischen der ersten und zweiten Oberfläche (12, 13) in dem Halbleiterbauelement-Abschnitt (14), wobei eine elektromagnetische Strahlung (20) mit einer Wellenlänge von mindestens 1064 nm auf eine Position in dem Halbleiterbauelement-Abschnitt (14) des Halbleiterkörpers (10) fokussiert in den Halbleiterkörper (10) eingebracht wird, und wobei die Leistungsdichte der Strahlung an der Position weniger als 1 × 108 W/cm2 beträgt, – Vereinzeln des Halbleiterbauelements dadurch, dass der einkristalline Halbleiterkörper (10) in dem Trenngebiet (15) von der ersten Oberfläche (12) bis zur zweiten Oberfläche (13) durchtrennt wird.
申请公布号 DE102012003747(B4) 申请公布日期 2016.08.18
申请号 DE20121003747 申请日期 2012.02.28
申请人 Infineon Technologies Austria AG 发明人 Ahrens, Carsten;Koller, Adolf;Lackner, Gerald;Mauder, Anton;Schneegans, Manfred;Schulze, Hans-Joachim
分类号 H01L21/74;H01L21/225;H01L21/265;H01L29/06;H01L29/739;H01L29/78;H01L29/861 主分类号 H01L21/74
代理机构 代理人
主权项
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