发明名称 |
Ein Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements |
摘要 |
Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements, aufweisend: – Ein Bereitstellen eines einkristallinen Halbleiterkörpers (10) mit einer ersten Oberfläche (12), einer der ersten Oberfläche (12) gegenüberliegenden zweiten Oberfläche (13), einem Halbleiterbauelement-Abschnitt (14) des Halbleiterkörpers (10) und einem dazu benachbarten Trenngebiet (15) des Halbleiterkörpers, – Erzeugen eines polykristallinen Halbleiterkörpergebiets (11) zwischen der ersten und zweiten Oberfläche (12, 13) in dem Halbleiterbauelement-Abschnitt (14), wobei eine elektromagnetische Strahlung (20) mit einer Wellenlänge von mindestens 1064 nm auf eine Position in dem Halbleiterbauelement-Abschnitt (14) des Halbleiterkörpers (10) fokussiert in den Halbleiterkörper (10) eingebracht wird, und wobei die Leistungsdichte der Strahlung an der Position weniger als 1 × 108 W/cm2 beträgt, – Vereinzeln des Halbleiterbauelements dadurch, dass der einkristalline Halbleiterkörper (10) in dem Trenngebiet (15) von der ersten Oberfläche (12) bis zur zweiten Oberfläche (13) durchtrennt wird. |
申请公布号 |
DE102012003747(B4) |
申请公布日期 |
2016.08.18 |
申请号 |
DE20121003747 |
申请日期 |
2012.02.28 |
申请人 |
Infineon Technologies Austria AG |
发明人 |
Ahrens, Carsten;Koller, Adolf;Lackner, Gerald;Mauder, Anton;Schneegans, Manfred;Schulze, Hans-Joachim |
分类号 |
H01L21/74;H01L21/225;H01L21/265;H01L29/06;H01L29/739;H01L29/78;H01L29/861 |
主分类号 |
H01L21/74 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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