| 发明名称 |
MICROPROCESSOR-BASED PROBE FOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
EP1459078(A2) |
申请公布日期 |
2004.09.22 |
| 申请号 |
EP20020785824 |
申请日期 |
2002.12.02 |
| 申请人 |
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. |
发明人 |
RUTTEN, IVO, W., J., M. |
| 分类号 |
G01R1/073;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/316 |
主分类号 |
G01R1/073 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
