发明名称 |
一种基于同相点的双相检相位比对系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种基于同相点的双相检相位比对系统,所述基于同相点的双相检相位比对系统包括:信号放大整形器、现场可编程门阵列、单片机、PC显示器;所述信号放大整形器的输出端连接现场可编程门阵列,现场可编程门阵列的输出端连接单片机,单片机通过视频线连接PC显示器;所述现场可编程门阵列进一步包括:相位重合检测电路、反相器、鉴相器、计数器;所述相位重合检测电路的输出端连接反相器和鉴相器的输入端,鉴相器的输出端连接计数器的输入端。本实用新型具有体积小、便于调试的特点;取各曲线的线性区使得所得到组合后的整个鉴相曲线具有高的线性度;减小了设备的体积而且提高了设备工作的可靠性。 |
申请公布号 |
CN205539193U |
申请公布日期 |
2016.08.31 |
申请号 |
CN201521065561.6 |
申请日期 |
2015.12.18 |
申请人 |
西安电子科技大学 |
发明人 |
宣宗强;胡裕瑞;宣勇;金瑜珍;翟飞 |
分类号 |
G01R25/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01R25/08(2006.01)I |
代理机构 |
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 |
代理人 |
汤东凤 |
主权项 |
一种基于同相点的双相检相位比对系统,其特征在于,所述基于同相点的双相检相位比对系统包括:信号放大整形器、现场可编程门阵列、单片机、PC显示器;所述信号放大整形器的输出端连接现场可编程门阵列,现场可编程门阵列的输出端连接单片机,单片机通过RS‑232连接PC显示器;所述现场可编程门阵列进一步包括:相位重合检测电路、反相器、鉴相器、计数器;所述相位重合检测电路的输出端连接反相器和鉴相器的输入端,鉴相器的输出端连接计数器的输入端;所述相位重合检测电路的输入端连接信号放大整形器。 |
地址 |
710071 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学 |