发明名称 电介质薄膜的成膜方法
摘要 本发明提供能够形成具有(100)/(001)取向的PZT薄膜的电介质薄膜的成膜方法。使PbO气体附着在衬底的表面形成种子层后,一边在已抽真空的真空槽内对衬底进行加热一边对锆钛酸铅(PZT)靶施加电压进行溅射,在衬底的表面上形成PZT薄膜。由种子层提供Pb和O,得到在PZT薄膜上不发生Pb缺损的、具有(001)/(100)取向的PZT膜。
申请公布号 CN103189968B 申请公布日期 2016.11.30
申请号 CN201180053170.0 申请日期 2011.10.03
申请人 株式会社爱发科 发明人 木村勋;神保武人;小林宏树;远藤洋平;大西洋平
分类号 H01L21/316(2006.01)I;C01G21/06(2006.01)I;C01G25/00(2006.01)I;C23C14/02(2006.01)I;C23C14/08(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I 主分类号 H01L21/316(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 臧霁晨;刘春元
主权项 一种电介质薄膜的成膜方法,具有在已抽真空的真空槽内一边加热衬底一边对锆钛酸铅(PZT)靶施加电压进行溅射,在所述衬底的表面形成PZT薄膜的成膜工序,在所述成膜工序之前具有使PbO气体附着于所述衬底的表面以形成PbO的种子层的种子层形成工序,在所述种子层形成工序中,在所述真空槽内对化学结构中含有Pb和O的释放源进行加热,使得从所述释放源放出PbO气体,在所述成膜工序中,使溅射出的PZT颗粒射向所述衬底的表面,在所述种子层上形成所述PZT薄膜,其特征在于,作为所述释放源,采用在从所述靶射出的PZT颗粒附着的位置上配置的第一防附着板上附着所述靶的溅射形成的PZT颗粒而由此形成的所述PZT薄膜,在所述种子层形成工序中,加热所述第一防附着板,使得从所述释放源放出所述PbO气体,在所述衬底的表面形成所述种子层。
地址 日本神奈川县
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