发明名称 |
一种测深声纳系统偏差校正方法 |
摘要 |
本发明提供一种测深声纳系统偏差校正方法,包括如下步骤:1)通过海上校准试验采集数据,得出各个待校准参量的初始值;2)选取一个待校准参量,根据各个待校准参量的当前值,计算出所选取的待校准参量的修正量;3)判断所选取的待校准参量的当前修正量是否小于预设的门限值或收敛于某一数值;如判断为否,则待校准参量的值用该待校准参量当前值与当前修正量之和替换,返回步骤2),直至所有待校准参量的修正量均符合上述判定条件。本发明综合考虑系统中的各校准参量,利用反馈机制,降低了各系统偏差之间的影响,增加了各系统偏差修正量的准确性。同时本发明考虑了高分辨率测深侧扫声纳的各项特点,因此特别适合应用于高分辨率测深侧扫声纳。 |
申请公布号 |
CN101587187A |
申请公布日期 |
2009.11.25 |
申请号 |
CN200810112482.4 |
申请日期 |
2008.05.23 |
申请人 |
中国科学院声学研究所 |
发明人 |
刘晓东;朱维庆;高俊涛;张方生;孙宇佳 |
分类号 |
G01S7/52(2006.01)I;G01S15/08(2006.01)I;G01S15/89(2006.01)I |
主分类号 |
G01S7/52(2006.01)I |
代理机构 |
北京泛华伟业知识产权代理有限公司 |
代理人 |
王 勇 |
主权项 |
1.一种测深声纳系统偏差校正方法,包括如下步骤:1)通过海上校准试验采集数据,得出各个待校准参量的初始值;所述校准参量至少包括横摇偏差;2)选取一个待校准参量,根据各个待校准参量的当前值,计算出所选取的待校准参量的修正量;3)判断所选取的待校准参量的当前修正量是否小于预设的门限值或收敛于某一数值;如判断为是,则将待校准参量当前修正量做为该待校准参量的最终修正量;如判断为否,则待校准参量的值用该待校准参量当前值与当前修正量之和替换,返回步骤2);4)当所有待校准参量都得到最终修正量时,校正过程结束。 |
地址 |
100190北京市海淀区北四环西路21号 |