发明名称 半导体器件及其晶圆级封装
摘要 本发明提供一种半导体器件,包括集成电路裸晶、钝化层和重布线层结构。集成电路裸晶具有主动表面,在主动表面上设有至少一第一片上金属垫和第二片上金属垫,第一片上金属垫邻近第二片上金属垫。钝化层位于主动表面上,且覆盖第一片上金属垫和第二片上金属垫。重布线层结构位于钝化层上。重布线层结构包括第一着垫,位于第一片上金属垫的上方;第一导孔,位于重布线层结构中,电连接第一着垫与第一片上金属垫;第二着垫,位于第二片上金属垫的上方;第二导孔,位于重布线层结构中,电连接第二着垫与第二片上金属垫;以及至少三条线路,设于重布线层结构上,并通过第一着垫与第二着垫之间的空间。本发明还提供一种晶圆级封装,可提高信号完整性。
申请公布号 CN105990312A 申请公布日期 2016.10.05
申请号 CN201610099033.5 申请日期 2016.02.23
申请人 联发科技股份有限公司 发明人 许仕逸;谢东宪;周哲雅
分类号 H01L23/522(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I 主分类号 H01L23/522(2006.01)I
代理机构 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人 何青瓦
主权项 一种半导体器件,其特征在于,包括:集成电路裸晶,具有主动表面,在该主动表面上设有至少一第一片上金属垫和第二片上金属垫,且该第一片上金属垫邻近该第二片上金属垫;钝化层,位于该主动表面上,且覆盖该第一片上金属垫以及该第二片上金属垫;以及重布线层结构,位于该钝化层上,该重布线层结构包括:第一着垫,位于该第一片上金属垫的上方;第一导孔,位于该重布线层结构中,电连接该第一着垫与该第一片上金属垫;第二着垫,位于该第二片上金属垫的上方;第二导孔,位于该重布线层结构中,电连接该第二着垫与该第二片上金属垫;以及至少三条线路,位于该重布线层结构上,并通过该第一着垫与该第二着垫之间的空间。
地址 中国台湾新竹市新竹科学工业园区笃行一路一号
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