发明名称 凸点下金属膜及其形成方法、及声表面波器件
摘要 本发明是形成于衬底上的凸点下金属膜,该凸点下金属膜的结构,至少具备由铂族金属膜制成的耐扩散阻挡层、以及位于所述耐扩散阻挡层下层的以铝为主成分的应力缓冲层。
申请公布号 CN101147250A 申请公布日期 2008.03.19
申请号 CN200680009633.2 申请日期 2006.03.07
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 古川光弘;鹰野敦
分类号 H01L21/60(2006.01);H03H9/145(2006.01);H03H9/25(2006.01) 主分类号 H01L21/60(2006.01)
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 陆锦华;黄启行
主权项 1.一种凸点下金属膜,形成于衬底上,其中,所述凸点下金属膜的结构至少由以下两个层构成:由铂族金属膜制成的耐扩散阻挡层;以及设置于所述耐扩散阻挡层的下层,且以铝为主成分的应力缓冲层。
地址 日本大阪府
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