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Testvorrichtung (1) zur Messung der Lichteigenschaften einer elektronischen Komponente (3), wobei die Testvorrichtung 1 umfasst: einen Einlass (5) an einem Ende dessen eine elektronische Komponente (3) zum Testen präsentiert werden kann; einen am Einlass (5) angeordneten Verschluss (7), wobei der Verschluss (7) so konfiguriert ist, dass er bewegbar ist zwischen einer ersten offenen Position, in der eine zu testende elektronische Komponente (3) im Einlass (5) empfangen werden kann, und einer zweiten geschlossenen Position, in welcher der Verschluss (7) mindestens den Grossteil einer Einbettung (9) überlagern kann, von welcher die besagte elektronische Komponente (3) gehalten wird, so dass der Verschluss verhindern kann, dass das von der elektronischen Komponente (3) abgestrahlte Licht von mindestens dem Grossteil der Einbettung (9) weg von der Testvorrichtung (1) abgelenkt wird; wobei der Verschluss (7) mindestens eine Schiebetür (15a, 15b) aufweist, welche geschoben werden kann, um den Verschluss in seine erste offene Position zu bewegen, und geschoben werden kann, um den Verschluss (7) in seine zweite geschlossene Position zu bewegen, und wobei die mindestens eine Schiebetür (15a, 15b) einen ausgeschnittenen Abschnitt (17) aufweist, der die besagte Öffnung (11) definiert, wenn sich der Verschluss (7) in seiner zweiten geschlossen Position befindet. Eine Anordnung wird zudem bereitgestellt, welche die Testvorrichtung umfasst. |
