| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Reinigen und Überprüfen einer Oberfläche (12) eines Bauteils (10), bei welchem die Oberfläche (12) mittels wenigstens eines Laserstrahls gereinigt und mittels laserinduzierter Plasmaspektroskopie überprüft wird, wobei mehrere, voneinander unterschiedliche Stellen (Mn) der Oberfläche (12) mittels der laserinduzierten Plasmaspektroskopie überprüft werden, indem mittels der laserinduzierten Plasmaspektroskopie jeweilige, die jeweiligen Stellen (Mn) charakterisierende Messwerte ermittelt werden, wobei die Oberfläche (12) in Abhängigkeit von den Messwerten überprüft wird. |
