发明名称 Prüfverfahren für Leiterplatten
摘要
申请公布号 DE69226937(D1) 申请公布日期 1998.10.15
申请号 DE19926026937 申请日期 1992.10.22
申请人 HEWLETT-PACKARD CO., PALO ALTO, CALIF., US 发明人 MARKER III, ROBERT E., LOVELAND, COLORADO 80538, US;JOHNSRUD, DARRELL B., LOVELAND, CO 80537, US
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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