发明名称 配件测试装置及配件测试方法
摘要 一种配件测试装置及配件测试方法。该配件测试装置包含有微处理单元、信号转换单元。其中微处理单元,用以发出仿真信号;信号转换单元,分别与微处理单元及配件电性连接,用以接收仿真信号,并将仿真信号转换为测试信号,利用该测试信号测试配件。配件接收测试信号后响应一回馈信号,并由信号转换单元接收后传送给微处理单元,以使微处理单元根据回馈信号判断配件是否正常运作。以往测试方式,较费时而且频繁的插拔动作会对主机造成损害。本发明的配件测试装置及配件测试方法,去除了以往测试方式的缺陷,达到缩短检测时间、提高生产效率的效果。
申请公布号 CN101377753A 申请公布日期 2009.03.04
申请号 CN200710148154.5 申请日期 2007.08.28
申请人 英业达股份有限公司 发明人 韩雪山;郑全阶;金志仁;宋建福;陈玄同;刘文涵
分类号 G06F11/22(2006.01) 主分类号 G06F11/22(2006.01)
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 陈晨
主权项 1、一种信息处理设备的配件测试装置,用以测试一配件,包括有:一微处理单元,用以发出一仿真信号,该仿真信号为仿真该信息处理设备中的一元件的运作;以及一信号转换单元,分别与该微处理单元及该配件电性连接,用以接收该仿真信号,并将该仿真信号转换为一测试信号,该测试信号用以测试该配件,该配件接收该测试信号后响应该测试信号而输出一回馈信号,并由该信号转换单元接收后传送给该微处理单元,以使该微处理单元根据该回馈信号判断该配件是否正常运作。
地址 中国台湾台北市