发明名称 INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE FOR PROJECTION OPTICAL SYSTEM, AND PRODUCTION METHOD FOR PROJECTION OPTICAL SYSTEM
摘要
申请公布号 EP1650787(A4) 申请公布日期 2007.09.19
申请号 EP20040748072 申请日期 2004.07.23
申请人 NIKON CORPORATION 发明人 ISHII, MIKIHIKO;ICHIHARA, YUTAKA;GEMMA, TAKASHI
分类号 H01L21/027;G01M11/02;G03F7/20 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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