| 发明名称 | 基于内置调制层的棱镜SPR传感器检测系统 | ||
| 摘要 | 一种基于内置调制层的棱镜SPR传感器检测系统，属于表面等离子体波传感器技术领域。该系统依次由光源(1)、多模光纤(2)、棱镜SPR传感器(3)、凸透镜(4)、通过多模光纤(5)接受上述凸透镜(4)传来光线的光谱仪(6)与上述光谱仪相连的计算机(8)组成，其特征在于：在上述棱镜SPR传感器(3)的棱镜(9)表面与其金属膜(10)之间增覆光学调制薄膜(12)；上述光学调制薄膜的折射率为n，厚度为d，其中n和d的值根据某一波长段所需共振峰个数，利用多层薄膜反射理论模型仿真方法确定。该系统具有对反射光谱共振峰个数进行调节的功能。 | ||
| 申请公布号 | CN101598665A | 申请公布日期 | 2009.12.09 |
| 申请号 | CN200910032961.X | 申请日期 | 2009.06.03 |
| 申请人 | 南京航空航天大学 | 发明人 | 曾捷;梁大开;万艳;王晓洁;刘宏月 |
| 分类号 | G01N21/17(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/17(2006.01)I |
| 代理机构 | 南京经纬专利商标代理有限公司 | 代理人 | 唐小红 |
| 主权项 | 1、一种基于内置调制层的棱镜SPR传感器检测系统，依次由由光源(1)、多模光纤(2)、棱镜SPR传感器(3)、凸透镜(4)、通过多模光纤(5)接受上述凸透镜(4)传来光线的光谱仪(6)与上述光谱仪相连的计算机(8)组成，其特征在于：在上述棱镜SPR传感器(3)的棱镜(9)表面与其金属膜(10)之间增覆光学调制薄膜(12)：上述光学调制薄膜的折射率为n，厚度为d，其中n和d的值根据某一波长段所需共振峰个数，利用多层薄膜反射理论模型仿真方法确定。 | ||
| 地址 | 210016江苏省南京市白下区御道街29号 | ||