| 发明名称 | 一种糖结构鉴定方法及糖结构鉴定装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种糖结构鉴定方法及糖结构鉴定装置，所述糖结构鉴定方法包括：步骤一：利用多级质谱信息进行待测糖结构谱峰对应的子结构预测，所述子结构作为对应谱峰的候选子结构；以及步骤二：利用De Novo糖结构鉴定技术，根据质谱谱峰对应的候选子结构组装出完整的糖结构。本发明基于糖结构多级质谱数据，采用De Novo糖结构鉴定技术，实现糖结构的鉴定，实现了多级质谱De Novo糖结构鉴定算法，通过有效的利用多级质谱信息，不仅显著提高了De Novo过程中枚举糖结构片段的效率，而且明显缩小了糖候选结构集合。 | ||
| 申请公布号 | CN105758928A | 申请公布日期 | 2016.07.13 |
| 申请号 | CN201610109049.X | 申请日期 | 2016.02.26 |
| 申请人 | 中国科学院计算技术研究所;中国科学院生物物理研究所 | 发明人 | 孙世伟;卜东波;杨飞;王耀军;李岩;黄纯;陈润生;高枫;刘亚名 |
| 分类号 | G01N27/62(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/62(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 祁建国;鲍俊萍 |
| 主权项 | 一种糖结构鉴定方法，其特征在于，包括步骤：步骤一：利用多级质谱信息进行待测糖结构谱峰对应的子结构预测，所述子结构作为候选子结构；以及步骤二：利用De Novo糖结构鉴定技术，根据质谱谱峰对应的候选子结构组装出完整的糖结构。 | ||
| 地址 | 100190 北京市海淀区中关村科学院南路6号 | ||