| 发明名称 | 存储器测试 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于运行和/或测试存储器的方法和装置，其可以在运行期间省时地测试半导体存储器。在该用于测试具有存储器单元(1)的存储器(2)的方法中，根据为各存储器单元(1)配置的可变参数和各存储器单元(1)的内容，分别为各存储器单元(1)形成第一检查信息。 | ||
| 申请公布号 | CN1585987A | 申请公布日期 | 2005.02.23 |
| 申请号 | CN02822437.X | 申请日期 | 2002.10.30 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 卡马尔·麦钱特;弗兰克·迈耶 |
| 分类号 | G11C29/00;G06F11/10;G06F11/22 | 主分类号 | G11C29/00 |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 邵亚丽;马莹 |
| 主权项 | 1.一种用于运行和/或测试具有存储器单元(1)的存储器(2)的方法，其中，根据为各存储器单元(1)配置的可变参数和各存储器单元(1)的内容，为该存储器单元(1)分别形成第一检查信息。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||