| 发明名称 | 控制采样设备的采样频率和采样相位的装置和方法 | ||
| 摘要 | 一种从耦合到采样设备的均衡器生成的值控制该采样设备的采样频率和采样相位的方法，所述方法包括：生成由均衡器导出的值的复数表示的步骤，以及生成来自该均衡器的输出的判决表示的步骤。将该复数表示与该判决表示相关以获得采样误差估计。使用该采样误差估计来调整采样设备的采样频率和采样相位。 | ||
| 申请公布号 | CN101002419A | 申请公布日期 | 2007.07.18 |
| 申请号 | CN200580012191.2 | 申请日期 | 2005.04.08 |
| 申请人 | 上海奇普科技有限公司 | 发明人 | J·朱;R·W·奇塔;S·M·洛珀斯托;D·A·维尔明;S·陈 |
| 分类号 | H04L7/00(2006.01) | 主分类号 | H04L7/00(2006.01) |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 陈炜 |
| 主权项 | 1.一种从耦合到采样设备的均衡器生成的值控制该采样设备的采样频率和采样相位的方法，该方法包括以下步骤：生成由均衡器导出的值的复数表示；生成来自该均衡器的输出的判决表示；将该复数表示与该判决表示相关以获得采样误差估计；以及使用该采样误差估计来调整采样设备的采样频率和采样相位。 | ||
| 地址 | 上海市虹漕路461号软件大厦4楼 | ||