发明名称 用于OTP器件的电平移位电路
摘要 本发明公开了一种用于OTP器件的电平移位电路,PMOS管通过串接的方式保证了PN结不被击穿,NMOS采用NW作为漏极保证PN结不被击穿,从而使整体电路安全工作于12V高压下。本发明的另外一种技术方案是利用PMOS管的衬底电阻实现限流,从而承受高压,且可有效的减小器件版图面积。本发明利用普通的低压晶体管设计可以耐高压的电平移位电路,降低工艺成本。
申请公布号 CN1787374A 申请公布日期 2006.06.14
申请号 CN200410089227.4 申请日期 2004.12.08
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 王楠
分类号 H03K19/0185(2006.01) 主分类号 H03K19/0185(2006.01)
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人 丁纪铁
主权项 1、一种用于OTP器件的电平移位电路,包含一个NMOS的组合网络,该组合网络含有两个互补的NMOS开关结构,并交叉地连接到一对PMOS管的栅极,构成一个有正反馈的网络,其特征在于:两个NMOS管MN1、MN2采用FD型的MOS管,一对PMOS管分别由MP1、MP2和MP3、MP4串接构成。
地址 201206上海市浦东川桥路1188号