发明名称 | 用于OTP器件的电平移位电路 | ||
摘要 | 本发明公开了一种用于OTP器件的电平移位电路,PMOS管通过串接的方式保证了PN结不被击穿,NMOS采用NW作为漏极保证PN结不被击穿,从而使整体电路安全工作于12V高压下。本发明的另外一种技术方案是利用PMOS管的衬底电阻实现限流,从而承受高压,且可有效的减小器件版图面积。本发明利用普通的低压晶体管设计可以耐高压的电平移位电路,降低工艺成本。 | ||
申请公布号 | CN1787374A | 申请公布日期 | 2006.06.14 |
申请号 | CN200410089227.4 | 申请日期 | 2004.12.08 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 王楠 |
分类号 | H03K19/0185(2006.01) | 主分类号 | H03K19/0185(2006.01) |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 丁纪铁 |
主权项 | 1、一种用于OTP器件的电平移位电路,包含一个NMOS的组合网络,该组合网络含有两个互补的NMOS开关结构,并交叉地连接到一对PMOS管的栅极,构成一个有正反馈的网络,其特征在于:两个NMOS管MN1、MN2采用FD型的MOS管,一对PMOS管分别由MP1、MP2和MP3、MP4串接构成。 | ||
地址 | 201206上海市浦东川桥路1188号 |