发明名称 |
負ベベルにより終端した、高い阻止電圧を有するSiC素子 |
摘要 |
本開示は、高い阻止電圧および低いオン抵抗の両方を有する炭化ケイ素(SiC)半導体素子に関する。一実施形態では、当該半導体素子は、少なくとも10キロボルト(kV)の阻止電圧と、10ミリオーム平方センチメートル(m&OHgr;・cm2)未満、さらにより好ましくは5m&OHgr;・cm2未満のオン抵抗と、を有する。別の実施形態では、当該半導体素子は、少なくとも15kVの阻止電圧と、15m&OHgr;・cm2未満、さらにより好ましくは7m&OHgr;・cm2未満のオン抵抗と、を有する。さらに別の実施形態では、当該半導体素子は、少なくとも20kVの阻止電圧と、20m&OHgr;・cm2未満、さらにより好ましくは10m&OHgr;・cm2未満のオン抵抗と、を有する。当該半導体素子は、パワーサイリスタ等のサイリスタ、バイポーラ接合トランジスタ(BJT:Bipolar Junction Transistor)、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT:Insulated Gate Bipolar Transistor)、またはPINダイオードであることが好ましいが、必須ではない。 |
申请公布号 |
JP2015510272(A) |
申请公布日期 |
2015.04.02 |
申请号 |
JP20140556614 |
申请日期 |
2013.02.05 |
申请人 |
クリー インコーポレイテッドCREE INC. |
发明人 |
チェン リン;アガーワル アナント クマール;オローリン マイケル ジョン;バーク ジュニア. アルバート アウグストゥス;パルモア ジョン ウィリアムズ |
分类号 |
H01L29/06;H01L21/331;H01L29/12;H01L29/73;H01L29/739;H01L29/74;H01L29/744;H01L29/78;H01L29/861;H01L29/868 |
主分类号 |
H01L29/06 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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