发明名称 負ベベルにより終端した、高い阻止電圧を有するSiC素子
摘要 本開示は、高い阻止電圧および低いオン抵抗の両方を有する炭化ケイ素(SiC)半導体素子に関する。一実施形態では、当該半導体素子は、少なくとも10キロボルト(kV)の阻止電圧と、10ミリオーム平方センチメートル(m&OHgr;・cm2)未満、さらにより好ましくは5m&OHgr;・cm2未満のオン抵抗と、を有する。別の実施形態では、当該半導体素子は、少なくとも15kVの阻止電圧と、15m&OHgr;・cm2未満、さらにより好ましくは7m&OHgr;・cm2未満のオン抵抗と、を有する。さらに別の実施形態では、当該半導体素子は、少なくとも20kVの阻止電圧と、20m&OHgr;・cm2未満、さらにより好ましくは10m&OHgr;・cm2未満のオン抵抗と、を有する。当該半導体素子は、パワーサイリスタ等のサイリスタ、バイポーラ接合トランジスタ(BJT:Bipolar Junction Transistor)、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT:Insulated Gate Bipolar Transistor)、またはPINダイオードであることが好ましいが、必須ではない。
申请公布号 JP2015510272(A) 申请公布日期 2015.04.02
申请号 JP20140556614 申请日期 2013.02.05
申请人 クリー インコーポレイテッドCREE INC. 发明人 チェン リン;アガーワル アナント クマール;オローリン マイケル ジョン;バーク ジュニア. アルバート アウグストゥス;パルモア ジョン ウィリアムズ
分类号 H01L29/06;H01L21/331;H01L29/12;H01L29/73;H01L29/739;H01L29/74;H01L29/744;H01L29/78;H01L29/861;H01L29/868 主分类号 H01L29/06
代理机构 代理人
主权项
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