| 摘要 |
入力に応答して、能動オンチップ構成要素および受動オンチップ構成要素など、異なるオンチップ構成要素の出力を比較することによって、較正下のオンチップデバイスのプロセス、電圧および温度コーナーが取得される。第１のオンチップ遅延線が、遅延の異なる段において出力（Ｄ［ ］）のアレイを生成するいくつかの能動デバイスを含む。第２のオンチップ遅延線が単出力（ＣＬＫ）を生成する。ＤＦＦアレイが、単出力クロックＣＬＫを用いて出力（Ｄ［ ］）のアレイをサンプリングする。異なるプロセスおよび温度コーナーにおける異なる遅延変動により、ＤＦＦアレイから異なる出力が生じる。ＤＦＦアレイからの異なる出力は、ＣＬＫの１つのサイクル内の較正下のオンチップデバイスの迅速な較正のためのものであり得る、プロセスおよび温度コーナーに関する情報を与える。 |
