发明名称 Kalibrierungstechniken für SAR-ADCS mit Reservoirkondensatoren auf-dem-Chip
摘要 Wenn Reservoirkondensatoren auf dem Chip für individuelle Bit-Entscheidungen verschoben werden, weist ein Analog/Digital-Umsetzer für Register mit schrittweiser Näherung (SAR-ADC) eine zusätzliche Fehlerquelle auf, die die Leistungsfähigkeit des SAR-ADC signifikant beeinträchtigen kann. Kalibrierungstechniken können angewandt werden, um solche Fehler in einem SAR-ADC unter Verwendung von Entscheiden-und-Einstellen-Schalten zu messen und zu korrigieren. Insbesondere kann eine Kalibrierungstechnik die effektive Bit-Wertigkeit jedes geprüften Bit zeigen unter Verwendung von mehreren speziellen Eingangsspannungen und Speichern eines Kalibrierungsworts für jedes geprüfte Bit, um den Fehler zu korrigieren. Eine solche Kalibrierungstechnik kann die Notwendigkeit verringern, ein Kalibrierungswort für jedes mögliche Ausgangswort zu speichern, um die zusätzliche Fehlerquelle zu korrigieren. Darüber hinaus kann eine weitere Kalibrierungstechnik die effektive Bit-Wertigkeit jedes geprüften Bit zeigen, ohne dass mehrere spezielle Eingangsspannungen erzeugt werden müssen.
申请公布号 DE102015121385(A1) 申请公布日期 2016.06.23
申请号 DE201510121385 申请日期 2015.12.08
申请人 Analog Devices Inc. 发明人 Maddox, Mark D.;Coln, Michael;Carreau, Gary R.;Chen, Baozhen
分类号 H03M1/10;H03M1/06 主分类号 H03M1/10
代理机构 代理人
主权项
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