发明名称 | 振动测量装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种振动测量装置,其不需要复杂的调整便可以对测定对象物产生的振动进行光学化测量。该振动测量装置包括:发射部,利用参量扬声器输出的声波对测定对象物进行激振;光学测量部,对所述测定对象物进行激光照射,并接收所述测定对象物反射出的激光,根据受光的光,测量所述测定对象物的振动,其中,一体化安装所述发射部和所述光学测量部,所述光学测量部使针对所述测定对象物的激光的投受光的光轴与由所述参量扬声器输出的声波的中心轴对着所述测定对象物的中心点相一致。 | ||
申请公布号 | CN105784097A | 申请公布日期 | 2016.07.20 |
申请号 | CN201510586898.X | 申请日期 | 2015.09.15 |
申请人 | 东芝泰格有限公司 | 发明人 | 石川大介;小宮研一 |
分类号 | G01H9/00(2006.01)I | 主分类号 | G01H9/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京市商泰律师事务所 11255 | 代理人 | 麻吉凤 |
主权项 | 一种振动测量装置,包括:发射部,通过参量扬声器输出的声波对测定对象物进行激振;以及光学测量部,对所述测定对象物照射激光,并受光从所述测定对象物反射出的激光,根据受光的光,测量所述测定对象物的振动;其中,一体化安装所述发射部和所述光学测量部,所述光学测量部使针对所述测定对象物的激光的投受光光轴与由所述参量扬声器输出的声波的中心轴对着所述测定对象物的中心点相一致。 | ||
地址 | 日本东京都品川区大崎一丁目11番1号 |