发明名称 大型环抛机抛光胶盘平面度的测量装置及其测量方法
摘要 一种大型环抛机抛光胶盘平面度的测量装置,包括激光器底座、激光器、直线导轨、滑块、位置传感器和位置传感器底座。测量时,激光器和直线导轨一起放置在待测工件之上,二者不发生接触。滑块仅与直线导轨垂直面接触,位置传感器随滑块沿直线导轨做水平运动,位置传感器底座与待测工件表面接触。测量后得到的位置信息在电脑上显示出来。该装置具有测量准确、快速的优点。
申请公布号 CN105783795A 申请公布日期 2016.07.20
申请号 CN201610235709.9 申请日期 2016.04.15
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 徐学科;范永涛;邵建达;王哲;顿爱欢;杨明红
分类号 G01B11/30(2006.01)I 主分类号 G01B11/30(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯;张宁展
主权项 一种大型环抛机抛光胶盘平面度的测量装置,其特征在于,包括激光器底座(2)、激光器(3)、直线导轨(4)、滑块(6)、位置传感器(7)和位置传感器底座(8);所述激光器底座(2)和直线导轨(4)放置在待测工件(1)的同一表面,且激光器底座(2)位于直线导轨(4)前方,所述激光器固定在激光器底座(2)上,所述滑块安装在所述直线导轨之上,且可沿该直线导轨做直线往复运动,所述位置传感器固定在所述滑块内部,该位置传感器与待测工件(1)表面垂直,使激光器的信号能垂直入射至位置传感器。
地址 201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱