发明名称 CHARACTERIZATION AND MEASUREMENT OF SUPERCONDUCTING STRUCTURES
摘要
申请公布号 EP1468303(A1) 申请公布日期 2004.10.20
申请号 EP20020787259 申请日期 2002.12.18
申请人 D-WAVE SYSTEMS, INC. 发明人 IL'ICHEV, EVGENI;GRAJCAR, MIROSLAV;ZAGOSKIN, ALEXANDRE, M.;STEININGER, MILES, F., H.
分类号 H01L39/22;G01R33/035;G06F7/48;G06N99/00;H01L27/18;(IPC1-7):G01R33/00;G06N1/00 主分类号 H01L39/22
代理机构 代理人
主权项
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