发明名称 触控屏的划线老化检测方法及检测系统
摘要 本发明涉及液晶模组检测技术领域,具体涉及一种触控屏的划线老化检测系统及检测方法。成触控屏参数配置文件及包含多个检测图形数据的模组检测图形列表文件,在模组检测图形列表文件添加划线检测流程;下发触控屏参数配置文件及模组检测图形列表文件,点亮各个检测通道的触控屏;根据模组检测图形列表文件在触控屏上循环的切换检测画面,当任一触控屏当前检测画面中添加有划线检测流程时,触发划线检测流程,作业员对所述触控屏进行划线操作,将划线轨迹显示不良的触控屏挑出。对于不同的触控屏,能对接使用了不同标准不同接口触控芯片的触控屏,具有良好的兼容性。可以批量对触控屏进行划线老化验证,提高了检测效率,大大缩短检测时间。
申请公布号 CN106093647A 申请公布日期 2016.11.09
申请号 CN201610477734.8 申请日期 2016.06.24
申请人 武汉精测电子技术股份有限公司 发明人 祁焱;白静;夏少俊;朱涛;刘艳飞;蒋石运;雷程程
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R31/01(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人 黄行军
主权项 一种触控屏的划线老化检测方法,其特征在于:根据触控屏的种类生成触控屏参数配置文件及包含多个检测图形数据的模组检测图形列表文件,在所述模组检测图形列表文件的任意一个或多个检测图形数据中添加任意一路检测通道的划线检测流程;下发所述触控屏参数配置文件及所述模组检测图形列表文件,点亮各个所述检测通道的触控屏;根据所述模组检测图形列表文件在各个所述触控屏上循环的切换检测画面,当任一触控屏当前检测画面中添加有划线检测流程时,触发该划线检测流程并对该触控屏进行划线操作,将划线轨迹显示不良的触控屏挑出。
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