| 发明名称 | 用于测量轻元素的光路结构 | ||
| 摘要 | 一种用于测量轻元素的光路结构，在样品盒下方连接测量支架，测量支架侧下方有正对样品盒内待测试样台的X射线出口，测量支架正下方有次级滤光片支架，次级滤光片支架下是正比计数管的铍窗。正比计数管连接前置放大器。正比计数管外有金属屏蔽盒。正比计数管连接正比计数管电源本实用新型特点是探测器(正比计数管)完全屏蔽。加入次级滤光片。可以较大提高测量轻元素的精度。 | ||
| 申请公布号 | CN201047831Y | 申请公布日期 | 2008.04.16 |
| 申请号 | CN200720096483.5 | 申请日期 | 2007.06.22 |
| 申请人 | 天津市博智伟业科技有限公司 | 发明人 | 张磊 |
| 分类号 | G01N23/223(2006.01) | 主分类号 | G01N23/223(2006.01) |
| 代理机构 | 天津盛理知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王融生 |
| 主权项 | 1.一种用于测量轻元素的光路结构，其特征在于：在样品盒下方连接测量支架，测量支架侧下方有正对样品盒内待测试样台的X射线出口，测量支架正下方有次级滤光片支架，次级滤光片支架下是正比计数管的铍窗。 | ||
| 地址 | 300384天津市华苑产业区鑫茂财智领地9－B－701 | ||