发明名称 状态估计装置、状态估计方法以及集成电路
摘要 实现一种状态估计装置,关于跟踪对象的物体,获取多个观测数据,使用从获取到的多个观测数据分别得到的似然度和观测数据的可靠度,对物体的内部状态进行估计。第一观测获取部获取第一观测数据,第二观测获取部获取第二观测数据。第一似然度获取部基于第一观测数据来获取第一似然度。第二似然度获取部基于第二观测数据来获取第二似然度。似然度合成部基于第一似然度、第二似然度、示出第一观测数据的可靠度的第一可靠度数据以及示出第二观测数据的可靠度的第二可靠度数据,来获取合成似然度。后验概率分布获取部根据合成似然度和预测概率分布数据,来获取在当前时刻t的、作为观测对象的内部状态的概率分布的后验概率分布数据。
申请公布号 CN105701839A 申请公布日期 2016.06.22
申请号 CN201510820272.0 申请日期 2015.11.24
申请人 株式会社巨晶片;国立大学法人九州工业大学 发明人 长谷川弘;生驹哲一
分类号 G06T7/20(2006.01)I 主分类号 G06T7/20(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 胡莉莉;陈岚
主权项  一种状态估计装置,作为对观测对象的内部状态进行估计的状态估计装置,具备:第一观测获取部,以任意的时间间隔来获取从可观测的现象得到的第一观测数据;第二观测获取部,以任意的时间间隔来获取从可观测的现象得到的第二观测数据;先验概率分布预测部,将在前一时刻t‑1获取到的、作为观测对象的内部状态的概率分布的后验概率分布数据设为在当前时刻t的先验概率分布数据,对在该时刻t的先验概率数据进行预测处理,获取在当前时刻t的、作为观测对象的内部状态的概率分布的预测概率分布数据;第一似然度获取部,基于所述第一观测数据来获取第一似然度;第二似然度获取部,基于所述第二观测数据来获取第二似然度;似然度合成部,基于所述第一似然度、所述第二似然度、示出所述第一观测数据的可靠度的第一可靠度数据以及示出所述第二观测数据的可靠度的第二可靠度数据,来获取合成似然度;以及后验概率分布获取部,根据所述合成似然度和所述预测概率分布数据,来获取在当前时刻t的、作为观测对象的内部状态的概率分布的后验概率分布数据。
地址 日本大阪府大阪市