スタックドダイアセンブリのためのインターポーザ上の電荷損傷保護

摘要

概してインターポーザ（６００，７００，８００）に関する装置が開示される。そのような装置において、インターポーザ（６００，７００，８００）は、複数の導体（２０８，４５１〜４５９，６０３〜６０６）および複数の電荷誘引構造（６１０，６２０，７１０，７２０，８１０，８２０）を有する。複数の電荷誘引構造（６１０，６２０，７１０，７２０，８１０，８２０）は、インターポーザ（６００，７００，８００）に結合されてスタックドダイ（２００）を提供することになる少なくとも１つの集積回路ダイ（２０２）を保護するためのものである。複数の導体（２０８，４５１〜４５９，６０３〜６０６）は複数の基板貫通ビア（２０８）を含む。