发明名称 接合面检测结构及接合面检测方法
摘要 本发明提供一种接合面检测结构及接合面检测方法,所述的接合面检测结构包含一玻璃基板及一判定图案。判定图案设置于玻璃基板的一表面,且判定图案包含一金属标记、一最小接合判定区域及一虚拟检测标记。金属标记具有一封闭区域。最小接合判定区域位于金属标记的封闭区域。虚拟检测标记位于金属标记的一外缘与一内缘间。本发明通过判定图案与虚拟检测标记之间的关系,进而可判断不符合规范的原因是因为制造工艺精度的问题、连接凸块本身来料的公差或是压合形变过大等问题。
申请公布号 CN101655535A 申请公布日期 2010.02.24
申请号 CN200910172172.6 申请日期 2009.09.15
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 黄柏辅;石崇甫;林世雄
分类号 G01R31/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/02(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 任默闻
主权项 1、一种接合面检测结构,其特征在于,所述的接合面检测结构包含:一玻璃基板;以及一判定图案,设置于所述玻璃基板的一表面,所述判定图案包含:一金属标记,具有一封闭区域;一最小接合判定区域,位于所述金属标记的所述封闭区域;及一虚拟检测标记,位于所述金属标记的一外缘与一内缘之间。
地址 台湾省新竹市