发明名称 |
応力を解放する半導体層 |
摘要 |
第III族窒化物系半導体構造などの半導体構造が提供される。半導体構造はキャビティー含有半導体層を含む。キャビティー含有半導体層は二つのモノレーヤーよりも大きな厚さを有し、複数のキャビティー有する。キャビティーは少なくとも1ナノメートルの代表的なサイズと少なくとも5ナノメートルの代表的間隔を有する。 |
申请公布号 |
JP2016526281(A) |
申请公布日期 |
2016.09.01 |
申请号 |
JP20160512032 |
申请日期 |
2014.05.01 |
申请人 |
センサー エレクトロニック テクノロジー インコーポレイテッド |
发明人 |
シャタロフ,マキシム,エス.;ヤン,ジンウェイ;サン,ウェンホン;ジェイン,ラケシュ;シュール,マイケル;ギャスカ,レミギウス |
分类号 |
H01L21/205;C23C16/34;H01L31/10;H01L33/12 |
主分类号 |
H01L21/205 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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