发明名称 応力を解放する半導体層
摘要 第III族窒化物系半導体構造などの半導体構造が提供される。半導体構造はキャビティー含有半導体層を含む。キャビティー含有半導体層は二つのモノレーヤーよりも大きな厚さを有し、複数のキャビティー有する。キャビティーは少なくとも1ナノメートルの代表的なサイズと少なくとも5ナノメートルの代表的間隔を有する。
申请公布号 JP2016526281(A) 申请公布日期 2016.09.01
申请号 JP20160512032 申请日期 2014.05.01
申请人 センサー エレクトロニック テクノロジー インコーポレイテッド 发明人 シャタロフ,マキシム,エス.;ヤン,ジンウェイ;サン,ウェンホン;ジェイン,ラケシュ;シュール,マイケル;ギャスカ,レミギウス
分类号 H01L21/205;C23C16/34;H01L31/10;H01L33/12 主分类号 H01L21/205
代理机构 代理人
主权项
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