发明名称 半導体加工装置および半導体加工法
摘要 本発明は、a)平坦度を有する機能領域(4)と、b)前記機能領域(4)を少なくとも所定の区分にわたって取り囲む支承領域(5)と、c)前記機能領域(4)の外側でかつ前記支承領域(5)の外側に配置された負荷領域(6)とを有する、プレート平面を備えたプレート(1)を支承する支承手段(2,2?,2??,2???,2IV)を備えた半導体加工装置であって、前記支承手段(2,2?,2??,2???,2IV)が、前記プレート(1)を前記支承領域(5)で支承するように形成されており、前記機能領域(4)の変形によって前記平坦度が調節可能でかつ/または変更可能でかつ/または影響付与可能でかつ/または調整可能となるように負荷手段が制御可能である、半導体加工装置に関する。本発明の半導体加工装置は、前記負荷手段が、前記支承領域(5)における前記プレート(1)の変形を可能にする少なくとも1つの真空路(7)を含むことにより特徴付けられている。さらに本発明は、対応する方法に関する。
申请公布号 JP2015536481(A) 申请公布日期 2015.12.21
申请号 JP20150542292 申请日期 2013.11.19
申请人 エーファウ・グループ・エー・タルナー・ゲーエムベーハー 发明人 パウル リンドナー
分类号 G03F7/20;B29C59/02;H01L21/027 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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