发明名称 一种增强磁圆偏振二向色性信号和提高信噪比的测量系统
摘要 本发明公开了一种增强磁圆偏振二向色性信号和提高信噪比的测量系统,该系统包括光源、单色仪、第一凸透镜、渥拉斯顿棱镜、光弹调制器、光弹调制器控制器、第二凸透镜、变温磁体系统、探测器,以及锁相放大器。利用本发明,增强了测量信号并提高了信噪比;同时,既可以测量磁圆偏振二向色性信号与外磁场的关系,这与SQUID测量的磁滞回线相对应;也可以测量磁圆偏振二向色性信号与温度的关系,这对应于SQUID测量的饱和磁化或剩余磁化的温度依赖性,可以确定材料的铁磁居里温度;还可以测量磁圆偏振二向色性信号的光能量依赖性,从而确定材料的能带结构。
申请公布号 CN101144776A 申请公布日期 2008.03.19
申请号 CN200610112933.5 申请日期 2006.09.13
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 甘华东;郑厚植;孙宝权;谭平恒
分类号 G01N21/19(2006.01) 主分类号 G01N21/19(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 周国城
主权项 1.一种增强磁圆偏振二向色性信号和提高信噪比的测量系统,其特征在于,该系统包括:用于提供入射光的光源;用于将光源发出的光变成单色光的单色仪;用于将单色仪出射的光聚焦到渥拉斯顿棱镜上的第一凸透镜;用于将第一凸透镜聚焦的光分成偏振方向相互垂直的线偏振光O光和E光的渥拉斯顿棱镜;用于调制渥拉斯顿棱镜分成的O光和E光,产生左旋和右旋圆偏振光强度相等的光弹调制器;用于控制光弹调制器,并向锁相放大器输出参考信号的光弹调制器控制器;用于将光弹调制器出射的左旋和右旋圆偏振光强度相等的O光和E光聚焦到固定在变温磁体系统中心的样品上的第二凸透镜;用于固定样品,实现样品的温度和磁场在较大范围内连续可变,进而研究材料磁圆偏振二向色性的温度和磁场强度依赖关系的变温磁体系统;用于分别探测从样品透射O光和E光的光强信号,并将探测的O光和E光的光强信号差分输入给锁相放大器的两个探测器;用于根据接收自两个探测器的光强信号和接收自光弹调制器控制器的参考信号,得到样品的磁圆偏振二向色性信号、光波长、温度和磁场强度的锁相放大器。
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