发明名称 Halbleiterbauelement und Herstellungsverfahren dafür
摘要 Ein Verfahren für die Herstellung eines Halbleiterbauelements umfasst das Ausbilden einer Rippenstruktur über einem Substrat. Eine Isolierschicht wird so ausgebildet, dass ein oberer Teil der Rippenstruktur von der Isolierschicht vorsteht. Eine Gate-Struktur wird über einem Teil der Rippenstruktur ausgebildet. Aussparungen werden in der Isolierschicht auf beiden Seiten der Rippenstruktur ausgebildet. Eine Aussparung wird in einem Abschnitt der Rippenstruktur ausgebildet, der nicht durch die Gate-Struktur bedeckt ist. Die Aussparung in der Rippenstruktur und die Aussparungen in der Isolierschicht werden so ausgebildet, dass eine Tiefe D1 der Aussparung in der Rippenstruktur und eine Tiefe D2 der Aussparungen in der Isolierschicht, von einer obersten Fläche der Isolierschicht aus gemessen, 0 ≤ D1 ≤ D2 erfüllen (aber D1 und D2 sind nicht gleichzeitig null).
申请公布号 DE102015112604(A1) 申请公布日期 2016.07.21
申请号 DE201510112604 申请日期 2015.07.31
申请人 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 发明人 Yu, Cheng-Yen;Chang, Che-Cheng;Cheng, Tung-Wen;Zhang, Zhe-Hao;Young, Bo-Feng
分类号 H01L21/336;H01L21/8238;H01L27/092;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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