发明名称 | 一种基于全息技术的机器视觉测量光路系统 | ||
摘要 | 本实用新型涉及一种基于全息技术的机器视觉测量光路系统,属于光学全息技术领域。该光路系统包括记录光路系统和测量光路系统,记录光路系统中半导体激光器发射出来的光依次经过扩束镜、准直透镜调节后得到理想的平行光照射在全息干版上,记录光路系统中半导体激光器发射出来的光经过扩束镜调整后发射光以与全息干版呈10°的夹角照射在全息干版上,记录完成后带有记录信息的全息干版成为已记录理想平行光的全息干版,测量光路系统中半导体激光器发射出来的光呈10°的夹角照射在记录有理想平行光的全息干版上,衍射出来的理想平行光照射在被测物体上,被测物体出来的光经会聚透镜后进入摄像机,摄像机与计算机连接。该系统提高了测量的精度与速度。 | ||
申请公布号 | CN205785066U | 申请公布日期 | 2016.12.07 |
申请号 | CN201620491967.9 | 申请日期 | 2016.05.26 |
申请人 | 昆明理工大学 | 发明人 | 展凯华;张永安 |
分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种基于全息技术的机器视觉测量光路系统,其特征在于:包括记录光路系统和测量光路系统,所述记录光路系统包括半导体激光器I(1)、扩束镜I(2)、准直透镜(3)、半导体激光器II(4)、扩束镜II(5)和全息干版I(6),测量光路系统包括半导体激光器III(7)、扩束镜III(8)、已记录理想平行光的全息干版II(9)、被测物体(10)、会聚透镜(11)、摄像机(12)和计算机(13),记录光路系统中半导体激光器I(1)发射出来的光依次经过扩束镜I(2)、准直透镜(3)调节后得到理想的平行光照射在全息干版I(6)上,记录光路系统中半导体激光器II(4)发射出来的光经过扩束镜II(5)调整后发射光以与全息干版I(6)呈10°的夹角照射在全息干版I(6)上,记录完成后带有记录信息的全息干版I(6)成为已记录理想平行光的全息干版II(9),测量光路系统中半导体激光器III(7)发射出来的光经扩束镜III(8)调整后发射光以与记录理想平行光衍射的全息干版II(9)呈10°的夹角照射在记录理想平行光衍射的全息干版II(9)上,记录理想平行光衍射的全息干版II(9)出来的理想平行光照射在被测物体(10)上,被测物体(10)出来的光经会聚透镜(11)后进入摄像机(12),摄像机(12)与计算机(13)连接。 | ||
地址 | 650093 云南省昆明市五华区学府路253号 |