摘要 |
Umgekehrtes Mikroskop, umfassend: eine Mikroskopbasis (1, 46); einen Objekttisch (2); eine Betrachtungsoptik mit einem Objektiv (4a, 4b); einen Objekttisch-Träger (15, 16, 46a), der auf der Mikroskopbasis angeordnet ist und den Objekttisch an zwei Enden abstützt; und ein Änderungsglied (17, 18, 31, 32, 62, 63), welches eine Höhenlage des Objekttisches in Bezug auf die Mikroskopbasis ändern kann; dadurch gekennzeichnet, dass das Objektiv Licht, welches von einer auf dem Objekttisch platzierten Probe empfangen wird, in einen kollimierten Lichtstrahl umsetzt, und die Betrachtungsoptik eine Abbildungslinse (49) aufweist, die sich im Inneren der Mikroskopbasis befindet und den kollimierten Lichtstrahl aus dem Objektiv fokussiert; und dass ein entsprechend dem Änderungsglied höhenveränderlicher Einbauraum zwischen Objekttisch (2) und Mikroskopbasis (1, 46) gebildet werden kann, in welchem das Objektiv so gehalten wird (5, 5a, 11a, 11), dass in den kollimierten Lichtstrahl zwischen dem Objektiv und der Abbildungslinse mindestens zwei Gehäuse (10, 19), die jeweils ein Lichtweg-Aufspaltelement zum Aufspalten eines optischen Wegs entlang einer optischen Achse des Objektivs aufnehmen, eingefügt werden können. |