| 摘要 |
L'invention concerne un procédé de prévision d'une défaillance d'une diode électroluminescente (23), comprenant les étapes de : -appliquer une différence de potentiel de test aux bornes de la diode électroluminescente inférieure à sa différence de potentiel minimale d'allumage ; -mesurer (5) le courant lc traversant la diode électroluminescente (23) durant l'application de ladite différence de potentiel de test; -générer un signal d'alerte lorsque le courant lc mesuré dépasse un seuil d'alerte la. |
