发明名称 |
一种利用定向分子流校准方向规的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种利用定向分子流校准方向规的方法,属于真空测量技术领域。该方法通过向稳压室中充入单一成分的气体,并使气体以恒定流量流入上游室,然后通过上游室与校准室间的小孔与抽气口间形成定向分子流。测量出上游室压力P<sub>f</sub>,获得方向规平衡室中的标准压力,求出方向规的修正因子p<sub>0</sub>/p。重复上述过程,根据多个方向规的修正因子p<sub>0</sub>/p,求出其平均值,由此实现对方向规的校准。采用本发明的校准方向规的方法,校准精度高,使被校准的方向规能够满足航天器上对定向流的测量、空间真空测量、地球表面大气探测以及星球真空环境等领域的需要。 |
申请公布号 |
CN101458143A |
申请公布日期 |
2009.06.17 |
申请号 |
CN200810186288.0 |
申请日期 |
2008.12.22 |
申请人 |
中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 |
发明人 |
卢耀文;张涤新;李得天;成永军;赵澜;孙海;马寅光;盛学民 |
分类号 |
G01L27/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01L27/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京理工大学专利中心 |
代理人 |
张利萍 |
主权项 |
1、一种利用定向分子流校准方向规的方法,其特征在于包括下列步骤:步骤一、对校准室、稳压室、上游室和连接管道进行抽真空操作;步骤二、向稳压室中充入单一成分的气体,并使气体以恒定流量流入上游室,然后通过上游室与校准室间的小孔,将气体引入校准室;步骤三、待上游室的气体压力稳定后,测量上游室压力Pf,通过下式获得方向规平衡室中的标准压力P;其中,Ps为校准室的真空度,ra为小孔的半径,re为方向规入口的半径,L为小孔距方向规入口的距离;步骤四、读取方向规的示值压力p0,求出方向规的修正因子p0/p;步骤五、改变上游室中气体的压力,重复步骤二至步骤四N次,根据N个方向规的修正因子p0/p,求出其平均值。 |
地址 |
730000甘肃省兰州市94号信箱 |