发明名称 Verfahren zum Ätzen einer Öffnung mit hohem Längen-/Breitenverhältnis
摘要 Verfahren zum Ätzen einer Öffnung in eine Dielektrikumsschicht, welches umfasst: Einleiten von Gasen in eine Kammer, wobei die Gase ein Sauerstoffquellengas, ein Inertgas, C2F4, sowie C4F6, C4F8 oder ein Gemisch von C4F6 und C4F8 umfassen, wobei C4F6:C2F4, C4F8:C2F4, oder C4F8 und C4F6:C2F4 in einem Verhältnis von etwa 0,25:1 bis 1,5:1 vorliegen, das Bilden eines Plasmas aus den Gasen in der Kammer; und das Ätzen der Öffnung durch die Dielektrikumsschicht zu einem darunter liegenden Substrat mit dem, wobei während des Ätzens eine gleichförmige Polymerschicht entlang der Seitenwände der Öffnung gebildet und aufrechterhalten wird, und wobei das Sauerstoffquellengas mit Kohlenstoff und Fluor enthaltenden Ionen in dem Plasma reagiert, um die Abscheidung von Polymer am Boden der Öffnung während des Ätzens zu unterdrücken.
申请公布号 DE112008003598(B4) 申请公布日期 2016.09.01
申请号 DE20081103598T 申请日期 2008.12.16
申请人 Micron Technology, Inc. 发明人 Benson, Russell A.;Taylor, Ted;Kiehlbauch, Mark
分类号 H01L21/311;H01L21/768 主分类号 H01L21/311
代理机构 代理人
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