发明名称 A METHOD AND SYSTEM FOR INFRARED DETECTION OF ELECTRICAL SHORT DEFECTS
摘要
申请公布号 EP1405091(A4) 申请公布日期 2005.07.20
申请号 EP20010990733 申请日期 2001.11.28
申请人 CANDESCENT TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 ENACHESCU, MARIUS;BELIKOV, SERGEY;MEIER, STEPHEN, F.
分类号 G01N25/72;G01M11/00;G01R31/308;G09F9/00;G09G3/00;H01J9/42;(IPC1-7):G01R31/308 主分类号 G01N25/72
代理机构 代理人
主权项
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