一种适用于原子荧光散射干扰的扣除方法

摘要

本发明涉及一种适用于原子荧光散射干扰的扣除方法，该方法如下:对激发光源的荧光信号进行采集并处理得到无底电流等干扰的激发光源荧光信号谱图；对样品激发荧光信号进行采集并处理得到样品激发荧光信号检测谱图；找出散射干扰荧光信号及样品中待测元素受到激发而产生的可识别荧光信号；根据激发光源荧光信号和散射干扰荧光信号强度计算散射干扰系数；根据散射干扰系数对可识别荧光信号中存在的散射干扰荧光信号强度进行扣除，得到可识别荧光信号的有效信号强度。本发明能够对检测过程中的散射干扰进行有效的识别和扣除，提高了原子荧光光谱仪器检测结果的准确性。

主权项

一种适用于原子荧光散射干扰的扣除方法，其特征在于包括下述步骤：步骤一：应用基于数字微镜器件的原子荧光色散系统对待测元素激发光源的荧光信号进行采集并生成谱图；步骤二：用待测元素激发光源对样品进行激发，应用基于数字微镜器件的原子荧光色散系统对样品激发荧光信号进行采集并生成谱图；步骤三：对步骤一得到的谱图进行平滑、滤波处理，获得无本底电流干扰的待测元素激发光源荧光信号谱图；步骤四：对步骤三得到的谱图进行与步骤三相同的平滑、滤波方法对步骤二得到的谱图进行处理，获得的样品激发荧光信号检测谱图；该谱图中仅存在由于样品中待测元素受到激发光源的照射而产生的包括共振荧光信号谱峰和非共振荧光信号谱峰在内的可识别荧光信号谱峰及散射干扰荧光信号谱峰；步骤五：根据待测元素激发光源荧光信号谱图中的荧光信号谱峰位置，找出由于散射干扰导致待测元素激发光源光谱折射进入光谱检测器的散射干扰荧光信号谱峰，根据待测元素特征谱线波长，找出样品激发荧光信号谱图中的可识别荧光信号谱峰；步骤六：设待测元素激发光源荧光信号谱图中与散射干扰荧光信号谱峰波长对应的各荧光信号谱峰的强度为Z₁…Z_i…Z_n，各散射干扰荧光信号谱峰的强度为S₁…S_i…S_n，根据式(1)求得散射干扰系数C；$C=\frac{\underset{i=1}{\overset{n}{\Sigma }}\frac{S_i}{Z_i}}{n}---\left(1\right)$步骤七：设样品激发荧光信号谱图中各可识别荧光信号谱峰的强度为R₁…R_i…R_m，1≤m≤n；根据式(2)、(3)对各可识别荧光信号谱峰中存在的散射干扰荧光信号谱峰强度T₁…T_i…T_m进行扣除，得到各可识别荧光信号谱峰的有效信号强度W₁…W_i…W_m；i＝1，2……m；W_i＝R_i‑T_i   (2)$T_i=R_i\times C---\left(3\right).$