发明名称 |
光学部件、使用该部件的光检测装置和方法、及分析方法 |
摘要 |
本发明涉及一种光学部件和使用该光学部件的光检测装置、光检测方法及分析方法,该光学部件可提高从试样产生的信号光的利用率,由用于配置多个试样的透明基板、配置在上述基板的下侧的微透镜阵列、配置在上述微透镜阵列的下侧的反射构件构成,在此,上述微透镜阵列包括上述基板侧的第一透镜体和上述反射构件侧的第二透镜体,上述第二透镜体的各透镜被配置成其焦点位于对向的上述第一透镜体的各透镜表面上,上述第一透镜体和上述第二透镜体被配置成:上述第一透镜体和上述第二透镜体的各透镜的合成焦点使上述试样的各个像聚焦在上述反射构件上。 |
申请公布号 |
CN100338445C |
申请公布日期 |
2007.09.19 |
申请号 |
CN03146614.1 |
申请日期 |
2003.07.08 |
申请人 |
欧姆龙株式会社 |
发明人 |
松下智彦;西川武男;青山茂 |
分类号 |
G01J3/44(2006.01);G01J3/28(2006.01);G01N21/64(2006.01);G01N21/76(2006.01) |
主分类号 |
G01J3/44(2006.01) |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 |
代理人 |
潘培坤;楼仙英 |
主权项 |
1.一种光学部件,由如下构成:微透镜阵列,其由具有多个透镜表面的第一透镜体、与具有多个透镜表面的第二透镜体构成;反射构件,其配置在上述第二透镜体的下侧,其特征在于,上述第一透镜体具有用于使上述各透镜表面的相反侧能够装载多个试样的平面,上述第一透镜体与上述第二透镜体被配置成各个上述透镜表面相对向,并且,上述第二透镜体的各透镜被配置成其焦点位于对向的上述第一透镜体的各透镜表面上,上述第一透镜体和上述第二透镜体被配置成:上述第一透镜体和上述第二透镜体的各透镜的合成焦点使上述试样的各个像成像在上述反射构件上。 |
地址 |
日本京都府京都市 |