| 摘要 |
본 발명의 테스트 보드는, 일측으로 반도체 패키지의 외부 단자와 콘택 핀을 통해 접촉하고, 타측으로 테스트 기판의 콘택 패드와 접촉하여 상기 외부 단자와 상기 콘택 패드가 통전되도록 하는 테스트 보드에 있어서, 상기 테스트 기판과 대응되고, 상기 콘택 핀이 관통하는 관통 홀이 형성되는 탄성 절연체, 및 상기 관통 홀에 충진되어 상기 콘택 패드와 전기적 접촉을 이루는 탄성 도전체를 포함한다. 이와 같은 구성에 의하면, 접촉 저항이 저감되어 전기적 접촉 기능이 크게 개선된다. |
