发明名称 |
测定光谱仪中杂散光比率的装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种测定光谱仪中杂散光比率的装置,包括特定光纤、透过光纤、与被测光谱仪工作波段相匹配的光源;所述特定光纤对特定波长的光不透明,所述透过光纤对所述特定波长的光透明,所述特定波长处于所述工作波段内。本实用新型具有能有效、快速的测定杂散光比率,无毒、无污染,可测定波段多,稳定方便的优点,可广泛应用于光谱仪性能的检测中。 |
申请公布号 |
CN201359534Y |
申请公布日期 |
2009.12.09 |
申请号 |
CN200820168774.5 |
申请日期 |
2008.11.21 |
申请人 |
聚光科技(杭州)有限公司;北京聚光世达科技有限公司 |
发明人 |
叶华俊;刘立鹏 |
分类号 |
G01J3/28(2006.01)I;G01J1/10(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/28(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1、一种测定光谱仪中杂散光比率的装置,包括与被测光谱仪工作波段相匹配的光源、用于分别连接被测光谱仪和光源的特定光纤、透过光纤。 |
地址 |
310052浙江省杭州市滨江区滨安路760号 |