发明名称 基于均值小漂移预测机台故障的方法
摘要 本发明的基于均值小漂移预测机台故障的方法,收集机台上产品的当前时刻以及当前时刻之前的日常点检的SPC数据以及机台的IEMS数据,对SPC数据进行时间加权处理之后得到标准化之后的SPC数据,并得到标准化后的SPC数据控制上限值、控制下限值,同时对IEMS数据进行分级,如果标准化后的当前时刻的SPC数据超过控制上限值或者低于控制下限值时,若第一预定范围内的IEMS数据显示为一级时判定机台正常,若第一预定范围内的IEMS数据显示为二级时判断SPC数据发生均值小漂移,机台产生故障,否则判定为继续追踪。本发明中,依据SPC数据以及IEMS数据同时对机台状态进行实时预测,可以防止预测结果不准确产生的误报警或者漏报警。
申请公布号 CN105988459A 申请公布日期 2016.10.05
申请号 CN201510073621.7 申请日期 2015.02.11
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 蔡娟;李欣
分类号 G05B23/02(2006.01)I 主分类号 G05B23/02(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种基于均值小漂移预测机台故障的方法,其特征在于,包括:等时间间隔地收集机台上当前时刻以及当前时刻之前的日常点检的SPC数据,对所述SPC数据进行筛选,形成SPC数据与时间关系的序列{X<sub>1</sub>,……,X<sub>n</sub>},其中X<sub>n</sub>为当前时刻的SPC数据,其中,n为所述SPC数据的数据序列中的数据个数,n取正自然数;对所述SPC数据序列{X<sub>1</sub>,……,X<sub>n</sub>}进行时间加权处理,得到加权处理之后的SPC数据序列{Y<sub>1</sub>,……,Y<sub>n</sub>};计算所述SPC数据序列{Y<sub>1</sub>,……,Y<sub>n</sub>}的控制上限值、控制下限值以及平均值<img file="FDA0000671137370000011.GIF" wi="65" he="79" />对应收集每一时刻SPC数据Y<sub>i</sub>的机台设备的IEMS数据,组成IEMS数据序列{Z<sub>i1</sub>,……,Z<sub>im</sub>},其中,i=1,2,……,n,其中,m为所述IEMS数据的数据序列中的数据个数,m取正自然数。对所述IEMS数据序列{Z<sub>i1</sub>,……,Z<sub>im</sub>}进行分级,若Z<sub>ij</sub>在基准值Z<sub>0</sub>误差范围内,评定为一级,否则,为二级,其中,j=1,2,……,m;对当前时刻进行结果预测,如果当前时刻SPC数据Y<sub>n</sub>大于所述控制上限值或者小于所述控制下限值时,若IEMS数据序列{Z<sub>n1</sub>,……,Z<sub>nm</sub>}中的所有数据在第一预定范围内的数据评定为一级,则判定机台正常,若IEMS数据序列{Z<sub>n1</sub>,……,Z<sub>nm</sub>}中的所有数据在第一预定范围内的数据评定为二级,则SPC数据Y<sub>n</sub>发生均值小漂移,判定机台故障,否则判定继续追踪;如果当前时刻SPC数据Y<sub>n</sub>在所述控制上限值和所述控制下限值范围内时,若IEMS数据序列{Z<sub>n1</sub>,……,Z<sub>nm</sub>}中的所有数据在第二预定范围内的数据评定为一级,则判定机台正常,若所述IEMS数据序列{Z<sub>n1</sub>,……,Z<sub>nm</sub>}中的所有数据在第二预定范围内的数据评定为二级,则判定继续追踪。
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