发明名称 |
信号检测方法和装置以及光学记录和/或再现装置 |
摘要 |
提供了一种使用对应于反射的主光束的检测信号以及对应于反射的第一和第二副光束的检测信号来检测信号以确定轨道上/偏离轨道和/或轨道穿越方向的方法和装置,以及使用上述方法和装置的光学记录和/或再现装置。当对应于光学信息存储介质的径向的方向上的分别对应于主光束以及第一和第二副光束的单侧部分的检测信号分别被称为第一主信号、第一副信号和第二副信号时,该方法和装置包括:通过对第一和第二副信号的组合以及第一主信号执行减法运算获得第一操作信号,该第一操作信号用于确定轨道上/偏离轨道和/或轨道穿越方向。 |
申请公布号 |
CN100354947C |
申请公布日期 |
2007.12.12 |
申请号 |
CN200310114794.6 |
申请日期 |
2003.12.28 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
金银求;金天基;朴庆奂;林智焕 |
分类号 |
G11B7/09(2006.01);G11B7/00(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/09(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
黄小临;王志森 |
主权项 |
1、一种检测信号的方法,该方法使用与主光束对应的检测信号以及分别与第一和第二副光束对应的检测信号来确定主光束在光学信息存储介质上的光点在轨道上还是偏离轨道和/或检测所述光点的轨道穿越方向,该主光束以及第一和第二副光束照射在光学信息存储介质上并由其反射,当对应于光学信息存储介质的径向的方向上的分别对应于主光束以及第一和第二副光束的同一侧的单侧部分的检测信号分别被称为第一主信号、第一副信号和第二副信号时,该方法包括以下步骤:通过对所述第一和第二副信号之和以及第一主信号执行减法运算获得第一操作信号,该操作信号用于确定主光束在光学信息存储介质上的光点在轨道上还是偏离轨道和/或检测所述光点的轨道穿越方向。 |
地址 |
韩国京畿道 |