| 摘要 |
가변 샘플링 캐패시터의 SAR ADC를 포함하는 반도체 장치가 제공된다. 반도체 장치는, 제1 모드에서 제1 레벨의 제어 신호를 출력하고 제2 모드에서 제1 레벨과 다른 제2 레벨의 제어 신호를 출력하는 모드 컨트롤러, 및 제공받은 아날로그 입력 신호를 복수의 가변 샘플링 캐패시터를 이용하여 디지털 출력 신호로 변환하는 SAR ADC(Successive Approximation Registor Analog to Digital Converter)를 포함하되, 각 가변 샘플링 캐패시터는, 제1 캐패시턴스를 갖는 제1 샘플링 캐패시터와, 제2 캐패시턴스를 갖는 제2 샘플링 캐패시터를 포함하고, SAR ADC는, 제1 모드에서, 제1 레벨의 제어 신호를 제공받아, 제1 및 제2 샘플링 캐패시터를, 제1 전압과 제1 전압과 다른 제2 전압 중 어느 하나에 접속시켜 아날로그 입력 신호를 디지털 출력 신호로 변환하고, 제1 모드와 다른 제2 모드에서, 제2 레벨의 제어 신호를 제공받아, 제1 및 제2 샘플링 캐패시터 중 어느 하나를, 제1 전압과 제2 전압 중 어느 하나에 접속시켜 아날로그 입력 신호를 디지털 출력 신호로 변환한다. |
